テラヘルツ分光法は、電磁波の一種であるテラヘルツ波（周波数0.3THz〜30THzの電磁波）を用いた分光技術です。従来の分光法では測定できなかったテラヘルツ周波数領域での、光と物質の相互作用の結果として得られる透過もしくは反射スペクトルを解析することで、材料やデバイスの表面および内部における電子やイオンの動きを計測することが可能です。現在、テラヘルツ分光法は、医療分野でのがん検診や組織診断、薬物の品質管理、半導体製造などの産業分野での品質管理、食品の品質管理や安全性評価、文化財の保存状態の調査などへの利用に向けて世界中で研究がおこなわれています。
我々は、テラヘルツ技術を利用した新規な評価法を用いて、エネルギー材料やデバイス ―具体的にはワイドギャップ半導体、太陽電池、蓄電池、スピントロニクスなどに係る材料・デバイス― の評価を行っています。
