1)“Semiquantitative interfacial characterization of HfxZr1-xO2/Si heterojunctions via terahertz emission spectroscopy”, Tiankai, Jia, Haining Li, Manjakavahoaka Razanoelina, Takahiro Teramoto, Takeshi Kijima, Hiroyasu Yamahara, Munetoshi Seki, Hitoshi Tabata, Masayoshi Tonouchi, Iwao Kawayama, 第86回応用物理学会秋季学術講演会、10a-N203-7、2025年9月10日、名城大学天白キャンパス”
